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J-GLOBAL ID：201002049639861424   整理番号：77A0364222

AEI801型電子顕微鏡のための両眼用マウントと試料棒ホルダーの改良設計

An improved design for a binocular mount and a specimen rod-holder for the AEI 801 electron microscope.

著者 (2件)： KING N R ,  WORTS W
資料名： Micron  (Micron)
巻： 8  号： 1/2  ページ： 77-79  発行年： 1977年 
JST資料番号： E0318C  ISSN： 0047-7206  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： AEI EM6Bに元来合わせて作られた双眼視用装置を,AEI...

シソーラス用語： 電子顕微鏡 ,...
準シソーラス用語： 試料台

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タイトルに関連する用語 (6件)： 電子顕微鏡 ,  両眼 ,  マウント ,  試料 ,  棒 ,  設計