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J-GLOBAL ID:201002052195071899 整理番号:77A0337074
X線の異常散乱 異常散乱の応用
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著者 (1件):
細谷資明
細谷資明 について
名寄せID(JGPN) 201550000220895630 ですべてを検索
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資料名:
日本結晶学会誌 (Journal of the Crystallographic Society of Japan)
日本結晶学会誌 について
JST資料番号 G0232A ですべてを検索
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巻:
19
号:
2
ページ:
99-120
発行年:
1977年
JST資料番号:
G0232A
ISSN:
0369-4585
CODEN:
NKEGA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)
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抄録/ポイント
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異常散乱を起こす原子が1種類の場合について,特に多くのエネル...
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引用文献 (149件):
1) D. C. Phillips: Adv. in Str. Res. by Diffraction Methods 2, 75 (1966) .
2) 細谷資明: 日本物理学会誌25, 288 (1970) .
3) R. Srinivasan : Adv. in Str. Res. by Diffraction Methods 4, 105 (1972) .
4) 田中信夫: 日本結晶学会誌17, 209 (1975) .
5) 坂部知平, 坂部貴和子: 日本結晶学会誌19, 144 (1977) .
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