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J-GLOBAL ID：201002052595921468   整理番号：78A0122950

酸化物薄膜表面での低エネルギー不活性ガスイオンの捕獲

Capture of low-energy inert-gas ions at the surface of an oxide film.

著者 (3件)： KOSHCHEEV A P ,  PANESH A M ,  MYASNIKOV I A
資料名： Sov Tech Phys Lett  (Soviet Technical Physics Letters)
巻： 2  号： 12  ページ： 449  発行年： 1977年 
JST資料番号： H0665A  ISSN： 0360-120X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ZnO薄膜をArイオン照射した後,150°Cまで真空中加熱し...

シソーラス用語： 酸化亜鉛 ,...

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タイトルに関連する用語 (5件)： 酸化物薄膜 ,  低エネルギー ,  不活性ガス ,  イオン ,  捕獲