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J-GLOBAL ID：201002053849158294 整理番号：78A0034436
一平面に多数存在する個々の小平面部の基準面からの形状偏位量の測定
Messung der Formabweichung von der Ebene bei mehreren in einer Ebene liegenden Einzelflaechen.
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{{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=78A0034436©=1") }}
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資料名：
Feingeraetetechnik (Feingeraetetechnik)
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巻：
26
号：
7
ページ：
311-313
発行年：
1977年
JST資料番号：
B0526A
ISSN：
0014-9683
CODEN：
FGRTA
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
解説
発行国：
東ドイツ (DDR)
言語：
ドイツ語 (DE)
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