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J-GLOBAL ID：201002055535726576   整理番号：75A0291473

冗長でない組合せ論理回路網に対するランダム検査発生法の確率論的解析

Probabilistic analysis of random test generation method for irredundant combinational logic networks.
著者 (2件)：
AGRAWAL P

AGRAWAL P について

, 
AGRAWAL V D

AGRAWAL V D について


資料名：
I E E E Trans Comput  (IRE Transactions on Electronics Computers)

I E E E Trans Comput について


巻： 24  号： 7  ページ： 691-695  発行年： 1975年 
JST資料番号： C0233A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
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抄録/ポイント
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論理回路網の検査発生は確率的なものと決定的なものに分類でき,...
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組合せ回路

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確率論的解析

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