文献
J-GLOBAL ID:201002055631687166 整理番号:75A0233508
プラスチック封止半導体素子の加速試験
The accelerated testing of plastic encapsulated semiconductor components.
出版者サイト
複写サービスで全文入手
{{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=75A0233508©=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで
{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=75A0233508&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=A0631A") }}
著者 (1件):
LAWSON R W
LAWSON R W について
名寄せID(JGPN) 201550000063324860 ですべてを検索
「LAWSON R W」ですべてを検索
資料名:
Annu Proc Reliab Phys Symp (Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
Annu Proc Reliab Phys Symp について
JST資料番号 A0631A ですべてを検索
資料情報を見る
巻:
12th
ページ:
243-249
発行年:
1974年
JST資料番号:
A0631A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
利得の低下,リークの増加,飽和電圧の増大などの湿度試験による...
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
半導体素子
半導体素子 について
「半導体素子」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,...
続きはJDreamIII(有料)にて
{{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=75A0233508&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=A0631A") }}
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
プラスチック
プラスチック について
「プラスチック」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,
封止
封止 について
「封止」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,
半導体素子
半導体素子 について
「半導体素子」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,
加速試験
加速試験 について
「加速試験」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
前のページに戻る
TOP
BOTTOM