文献
J-GLOBAL ID:201002058254961060
整理番号:80A0051905
トランジスタ構造のホットスポット間接測定
О косвенном измерении температуры “горячих пятен” в транзисторных структурах.
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{{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=80A0051905©=1") }}
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{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=80A0051905&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=R0090A") }}