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J-GLOBAL ID：201002059622094506   整理番号：79A0156289

走査電子顕微鏡,電子プローブミクロ分析,および電子分光の組合せによる表面分析

Coordinated surface analysis with scanning electron microscopy, electron probe microanalysis, and electron spectroscopy.

著者 (1件)： SCHREIBER T P
資料名： Am Lab  (American Laboratory)
巻： 11  号： 3  ページ： 43-44,46,48-51  発行年： 1979年 
JST資料番号： D0847A  ISSN： 0044-7749  CODEN： ALBYA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 標題の3種の表面分析法は,その分析する表面からの深さ,分解能...

シソーラス用語： 電子プローブX線分析 ,...

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タイトルに関連する用語 (6件)： 走査電子顕微鏡 ,  電子プローブ ,  ミクロ分析 ,  電子分光 ,  組合せ ,  表面分析