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J-GLOBAL ID:201002062103840382 整理番号:78A0314043
開口を貫く電磁界に及ぼす腐食の影響
Corrosion effects on field penetration through apertures.
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著者 (1件):
KUNKEL G
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名寄せID(JGPN) 201550000086579874 ですべてを検索
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資料名:
IEEE Int Electromagn Compat Symp Rec (IEEE Electromagnetic Compatibility Symposium)
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巻:
1978
ページ:
96-99
発行年:
1978年
JST資料番号:
E0041A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)
抄録/ポイント:
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