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J-GLOBAL ID:201002065381181798 整理番号:79A0069615
使用者からみた論理ICの試験の容易さ
La testabilit<span style=text-decoration:overline>e ́</span> des circuits int<span style=text-decoration:overline>e ́</span>gr<span style=text-decoration:overline>e ́</span>s logiques vue par l’utilisateur.
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著者 (1件):
PIEL G
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名寄せID(JGPN) 201550000075103460 ですべてを検索
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資料名:
Onde Electr (Onde Electrique)
Onde Electr について
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巻:
58
号:
12
ページ:
830-835
発行年:
1978年
JST資料番号:
D0247A
ISSN:
0030-2430
CODEN:
ONELA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
フランス (FRA)
言語:
フランス語 (FR)
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論理ICの集積度の向上に伴って,ICの試験方法の改良と確立が...
シソーラス用語:
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