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J-GLOBAL ID:201002068164708973 整理番号:79A0289881
IC,LSIの静電気破壊とその対策
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{{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=79A0289881©=1") }}
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{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=79A0289881&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=S0175A") }}
著者 (1件):
野依正晴
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資料名:
静電気学会誌 (Journal of the Institute of Electrostatics Japan)
静電気学会誌 について
JST資料番号 S0175A ですべてを検索
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巻:
3
号:
3
ページ:
122-128
発行年:
1979年
JST資料番号:
S0175A
ISSN:
0386-2550
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)
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IC,LSIの静電気による破壊についての破壊症状,保護対策お...
シソーラス用語:
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