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J-GLOBAL ID:201002068926967211 整理番号:79A0350096
特集:高品質を支える新しい検査装置 電子材料用表面分析装置
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著者 (1件):
山内洋
山内洋 について
名寄せID(JGPN) 201550000134189102 ですべてを検索
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(
島津製作所
)
島津製作所 について
名寄せID(JGON) 201551000096432905 ですべてを検索
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資料名:
電子材料 (Electronic Parts and Materials)
電子材料 について
JST資料番号 F0040A ですべてを検索
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巻:
18
号:
9
ページ:
26-29
発行年:
1979年
JST資料番号:
F0040A
ISSN:
0387-0774
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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各種表面分析手法,装置の中から代表的なものを選んで,その概要...
シソーラス用語:
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