文献
J-GLOBAL ID：201002068988446897   整理番号：77A0231090

電子交換機用半導体メモリの試験

Checking out semiconductor memories for electronic switching systems.
  • 出版者サイト 複写サービスで全文入手
  • 高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=77A0231090&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=B0061A") }}
著者 (1件)：
GREEN C W

GREEN C W について


資料名：
Bell Lab Rec  (Bell Laboratories Record)

Bell Lab Rec について


巻： 55  号： 5  ページ： 131-136  発行年： 1977年 
JST資料番号： B0061A  ISSN： 0005-8564  CODEN： BLRCA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
メモリの試験を行うためには複雑な計算機によるシステムが必要と...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ（有料）でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
電子交換

電子交換 について

,...
   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=77A0231090&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=B0061A") }}
タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
電子交換

電子交換 について

, 
半導体メモリ

半導体メモリ について

, 
試験

試験 について


前のページに戻る

TOP

BOTTOM