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J-GLOBAL ID：201002070237354797   整理番号：80A0047623

偏光解析を用いたGeSi合金の組成の決定

Determination of the composition of GeSi alloy by ellipsometry.

著者 (5件)： LUKES F (J.E. Purkyne Univ.) ,  SCHMIDT E (J.E. Purkyne Univ.) ,  HUMLI ́CEK J (J.E. Purkyne Univ.) ,  KEKOUA M K (Inst. Metallurgy, Academy Sciences USSR) ,  KHOUTSICHVILI E (J.E. Purkyne Univ.)
資料名： Phys Status Solide A  (Physica Status Solidi. A. Applied Research)
巻： 53  号： 1  ページ： 321-325  発行年： 1979年 
JST資料番号： D0774A  ISSN： 0031-8965  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 東ドイツ (DDR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 吸収係数の小さいことで特徴づけられる合金および混晶の組成を決...

シソーラス用語： 偏光解析法 ,...

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タイトルに関連する用語 (2件)： 偏光解析 ,  組成