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J-GLOBAL ID：201002071056439860   整理番号：77A0295078

Goos-Haenchenシフトと減衰全反射スペクトルにおける有効厚さとの関係

Relationships between the Goos-Haenchen shift and the effective thickness in attenuated total reflection spectroscopy.
著者 (1件)：
HIRSCHFELD T

HIRSCHFELD T について


資料名：
Appl Spectrosc  (Applied Spectroscopy)

Appl Spectrosc について


巻： 31  号： 3  ページ： 243-244  発行年： 1977年 
JST資料番号： A0429A  ISSN： 0003-7028  CODEN： APSPA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
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減衰全反射分光法における吸収試料の挙動を規定する用語である有...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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全反射

全反射 について

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タイトルに関連する用語
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Goos-Haenchenシフト

Goos-Haenchenシフト について

, 
減衰全反射

減衰全反射 について

, 
スペクトル

スペクトル について


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