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J-GLOBAL ID：201002071216802486   整理番号：76A0308295

シンクロトロン放射を用いたX線顕微鏡

X-ray microscopy with synchrotron radiation.
著者 (3件)：
NIEMANN B

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, 
RUDOLPH D

RUDOLPH D について

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SCHMAHL G

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資料名：
Appl Opt  (Applied Optics)

Appl Opt について


巻： 15  号： 8  ページ： 1883-1884  発行年： 1976年 
JST資料番号： B0026B  ISSN： 0003-6935  CODEN： APOPA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
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撮像光学素子としてゾーンプレートを用いた軟X線用の顕微鏡を製...
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X線顕微鏡

X線顕微鏡 について

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シンクロトロン放射

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X線顕微鏡

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