文献

J-GLOBAL ID：201002073245387156   整理番号：79A0094727

定量Auger電子スペクトロスコピー(AES)の薄膜層への応用

Anwendung der quantitativen Augerelektronenspektroskopie (AES) auf duenne Oberflaechenschichten.

著者 (2件)： HOFMANN S ,  ERLEWEIN J
資料名： Mikrochim Acta  (Mikrochimica et Ichnoanalytica Acta)
巻： 1  号： 1/2  ページ： 65-74  発行年： 1979年 
JST資料番号： D0076A  ISSN： 0026-3672  CODEN： MIACA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オーストリア (AUT)  言語： ドイツ語 (DE)

抄録/ポイント： AESの基本式を薄膜均一層に適用し,低速電子線回折(LEED...

シソーラス用語： スペクトロスコピー ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=79A0094727&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=D0076A") }}

タイトルに関連する用語 (6件)： 定量 ,  Auger電子 ,  スペクトロスコピー ,  AES ,  薄膜層 ,  応用