拡張X線吸収微細構造(EXAFS)による液体半導体の構造決定

CROZIER E D; LYTLE F W; SAYERS D E; STERN E A

文献

J-GLOBAL ID：201002073327473590 整理番号：77A0379827

拡張X線吸収微細構造(EXAFS)による液体半導体の構造決定

Structural determinations of liquid semiconductors using extended X-ray absorption fine structure.

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巻： 55 号： 11 ページ： 1968-1974 発行年： 1977年
JST資料番号： B0228A ISSN： 0008-4042 CODEN： CJCHA 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：カナダ (CAN) 言語：英語 (EN)

高温における液体および非晶質AS₂Se...

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