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J-GLOBAL ID：201002076108129181   整理番号：78A0018633

斜角探触子の有効ビーム幅と欠陥高さの測定精度について 欠陥面の粗さの影響

著者 (2件)： 小野沢元久 (日本大・工) ,  石井勇五郎 (日本大・工)
資料名： 非破壊検査  (Journal of JSNDI)
巻： 26  号： 9  ページ： 606-607  発行年： 1977年 
JST資料番号： G0027A  ISSN： 0367-5866  CODEN： HIHKA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 超音波探傷における欠陥寸法の推定に用いるデシベルドロップ法は...

シソーラス用語： 探触子 ,...

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タイトルに関連する用語 (6件)： 探触子 ,  ビーム幅 ,  欠陥 ,  高さ ,  測定精度 ,  粗さ