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J-GLOBAL ID：201002076727971857   整理番号：80A0088333

STEM X線分析における検出限度及び空間分解能 Fe-Ni合金への応用

Detectability limit and spatial resolution in STEM X-ray analysis: Application to Fe-Ni allows.

著者 (2件)： ROMIG A D Jr (Lehigh Univ., Pa.) ,  GOLDSTEIN J I (Lehigh Univ., Pa.)
資料名： Proc Annu Conf Microbeam Anal Soc  (Microbeam Analysis)
巻： 14th  ページ： 124-128  発行年： 1979年 
JST資料番号： E0776B  ISSN： 0278-1727  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Philips300TEM-STEM(電圧100KV,電子ビ...

シソーラス用語： 鉄合金 ,...

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タイトルに関連する用語 (6件)： STEM ,  X線分析 ,  検出限度 ,  空間分解能 ,  Fe-Ni合金 ,  応用