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J-GLOBAL ID：201002077146385511   整理番号：80A0097075

Auger電子分光とX-線光電子分光による毒された触媒の研究

Studies of poisoned catalysts by means of Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy.
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著者 (3件)：
HUCKNALL D J

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(J & S Sieger Ltd., England)

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, 
WILLATT B M

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(J & S Sieger Ltd., England)

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, 
HOCKHAM R J

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(J & S Sieger Ltd., England)

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資料名：
Symp New Technol Explor Oil Gas Resour  (Symposium (on) New Technologies for Exploration and Exploitation of Oil and Gas Resources 790418 Vol.1)

Symp New Technol Explor Oil Gas Resour について


巻： 1979  号： 1  ページ： 345-359  発行年： 1979年 
JST資料番号： K19790092  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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ルーチンに活性のなくなったセンサを点検する効果的な方法を確立...
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Augerスペクトル

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Auger電子分光

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毒

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触媒

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研究

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