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J-GLOBAL ID：201002077964484363   整理番号：77A0299638

X線光電子分光法の標準試料を用いない定量分析への応用

Application of X-ray photoelectron spectroscopy to quantitative analysis without standards.

著者 (2件)： HIROKAWA K ,  OKU M
資料名： Fresenius Z Anal Chem  (Fresenius' Zeitschrift fuer Analytische Chemie)
巻： 285  号： 3/4  ページ： 192-198  発行年： 1977年 
JST資料番号： E0425A  ISSN： 0016-1152  CODEN： FZACA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 標記分光法を固体試料の表面分析へ適用する際に問題になる放出光...

シソーラス用語： X線光電子スペクトル ,...

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タイトルに関連する用語 (4件)： X線光電子分光法 ,  標準試料 ,  定量分析 ,  応用