X線マイクロアナライザを使用する微量分析で後散乱電子によるバックグラウンドの除去

文献

J-GLOBAL ID：201002078126292670 整理番号：78A0006618

Reduction of background due to backscattered electrons in energy-dispersive X-ray microanalysis

出版者サイト複写サービスで全文入手 {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=78A0006618&COPY=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=78A0006618&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=B0454B") }}

著者 (1件)：
資料名：
巻： 110 号： 2 ページ： 103-106 発行年： 1977年
JST資料番号： B0454B ISSN： 0022-2720 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

走査型電子顕微鏡のもとでX線マイクロアナライザによる微量分析...

,...

続きはJDreamIII（有料）にて {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=78A0006618&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=B0454B") }}

, , , ,

前のページに戻る