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J-GLOBAL ID:201002078949769072 整理番号:77A0259806
時間を節約し障害を解消するために試験性を考慮した回路設計
Design circuits for testability to save time and cut bottlenecks.
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著者 (1件):
TOSE D
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名寄せID(JGPN) 201550000258811332 ですべてを検索
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資料名:
EDN (EDN)
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巻:
22
号:
10
ページ:
95-98
発行年:
1977年
JST資料番号:
E0341B
ISSN:
0012-7515
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)
抄録/ポイント:
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試験の容易さと故障部分の分離を考慮した設計はシステム開発費を...
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