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J-GLOBAL ID：201002080339074743   整理番号：80A0083233

VUV分光法による水素アーク中の原子および分子密度の測定

Measurement of atom and molecule number densities in hydrogen arcs by means of VUV spectroscopy.

著者 (1件)： BEHRINGER K (Techn. Univ. Muenchen, FRG)
資料名： Appl Phys  (Applied Physics)
巻： 20  号： 1  ページ： 19-27  発行年： 1979年 
JST資料番号： D0256B  ISSN： 0340-3793  CODEN： APHYC  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： T≒20,000Kのアーク中の基底準位水素原子密度と,T≒1...

シソーラス用語： 真空紫外スペクトル ,...

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タイトルに関連する用語 (7件)： VUV ,  分光法 ,  水素 ,  アーク ,  原子 ,  分子 ,  密度