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J-GLOBAL ID：201002080414081734   整理番号：77A0181752

バックパネル試験時間を削減する電気的な走査方式

Electrical scanning reduces back-panel testing time.
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著者 (1件)：
KARR M

KARR M について


資料名：
Comput Des  (Computer Design)

Comput Des について


巻： 16  号： 3  ページ： 104,106,108,110  発行年： 1977年 
JST資料番号： A0090A  ISSN： 0010-4566  CODEN： CMPDA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
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抄録/ポイント
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工業的な連続性テスタはロジックカードの代りにパネルのソケット...
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