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J-GLOBAL ID：201002080987228543 整理番号：77A0224165
振動数変調X線回折 I 部分構造因子の決定
Frequency modulated X-ray diffraction. I. Determination of partial structure factors.
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SHEVCHIK N J
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資料名：
Philos Mag (Philosophical Magazine)
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巻：
35
号：
3
ページ：
805-809
発行年：
1977年
JST資料番号：
D0316A
ISSN：
0031-8086
CODEN：
PHMAA
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
短報
発行国：
イギリス (GBR)
言語：
英語 (EN)
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入射X線の振動数が多元素試料のある特定元素の吸収端よりわずか...
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