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J-GLOBAL ID：201002081526201879   整理番号：80A0074051

電子計算機で元素間相互作用を補正するけい光X線分析でラテライトやボーキサイト中のSi,Al,Ti,Feの定量

Quantitative determination of Si, Al, Ti, and Fe in laterites and bauxites by X-ray fluorescence using a computer for correction of interelement effects.

著者 (1件)： SCHORIN H (Centro De Ingenier<span style=text-decoration:overline>i ́</span>a y Computaci<span style=text-decoration:overline>o ́</span>n, Venezuela)
資料名： Appl Spectrosc  (Applied Spectroscopy)
巻： 33  号： 6  ページ： 634-637  発行年： 1979年 
JST資料番号： A0429A  ISSN： 0003-7028  CODEN： APSPA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 融解Na₂B₄O...

シソーラス用語： ラテライト ,...

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タイトルに関連する用語 (11件)： 電子計算機 ,  元素 ,  相互作用 ,  けい光X線分析 ,  ラテライト ,  ボーキサイト ,  Si ,  Al ,  Ti ,  Fe ,  定量