文献
J-GLOBAL ID:201002082821318830 整理番号:79A0294752
マイクロプロセッサ組込による自己診断機能つき測定器
Testing. μP-based instruments last longer when test help comes from within.
出版者サイト
複写サービスで全文入手
高度な検索・分析はJDreamⅢで
{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=79A0294752&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=C0397A") }}
著者 (1件):
YENCHARIS L
YENCHARIS L について
名寄せID(JGPN) 201550000153212131 ですべてを検索
「YENCHARIS L」ですべてを検索
資料名:
Electron Des (Electronic Design)
Electron Des について
JST資料番号 C0397A ですべてを検索
ISSN,ISBN,CODENですべてを検索
資料情報を見る
巻:
27
号:
8
ページ:
60-61
発行年:
1979年
JST資料番号:
C0397A
ISSN:
0013-4872
CODEN:
ELODA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
Electro/79に提出された34件のテーマから拾ったハイ...
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
電気計測器
電気計測器 について
「電気計測器」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,...
続きはJDreamIII(有料)にて
{{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=79A0294752&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=C0397A") }}
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
マイクロプロセッサ
マイクロプロセッサ について
「マイクロプロセッサ」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,
組込
組込 について
「組込」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,
自己診断機能
自己診断機能 について
「自己診断機能」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
,
測定器
測定器 について
「測定器」ですべてを検索
この用語の用語情報を見る
前のページに戻る
TOP
BOTTOM