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J-GLOBAL ID：201002083310543654   整理番号：77A0298992

薄膜中の欠陥が原因となるレーザ損傷の統計的解析

Statistical analysis of defect-caused laser damage in thin films.

著者 (3件)： PICARD R H ,  MILAM D ,  BRADBURY R A
資料名： Appl Opt  (Applied Optics)
巻： 16  号： 6  ページ： 1563-1571  発行年： 1977年 
JST資料番号： B0026B  ISSN： 0003-6935  CODEN： APOPA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 薄膜中に互に同等な欠陥がランダムに分布しているとき,この薄膜...

シソーラス用語： レーザ照射 ,...

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タイトルに関連する用語 (5件)： 薄膜 ,  欠陥 ,  原因 ,  レーザ損傷 ,  統計的解析