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J-GLOBAL ID：201002084566222312   整理番号：78A0261103

HeとH₂の分子ビーム回折 : NiOの(001)面を調べる2種類の方法

Molecular beam diffraction of He and H₂: Two different ways of probing the (001) face of NiO.

著者 (3件)： CANTINI P ,  FELCHER G P ,  TATAREK R
資料名： Int Vac Congr  (Proceedings. International Vacuum Congress 7th 770912 Vol.1-3)
巻： 7th  号： 2  ページ： 1357-1360  発行年： 1977年 
JST資料番号： K19770176  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： オーストリア (AUT)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 超音速の分子ビーム散乱を用いて,NiOの(001)面を研究。...

シソーラス用語： 分子散乱 ,...

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タイトルに関連する用語 (4件)： He ,  H2 ,  分子ビーム ,  回折