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J-GLOBAL ID：201002087332826299   整理番号：77A0358321

ホログラフィー干渉法: 高密度回路板におけるホットスポットの発見

Holographic interferometry: Identification of hot spots in a high density circuit board.

著者 (3件)： GUPTA P C ,  AGGARWAL A K ,  SHUKLA V N
資料名： Appl Opt  (Applied Optics)
巻： 16  号： 7  ページ： 1802-1804  発行年： 1977年 
JST資料番号： B0026B  ISSN： 0003-6935  CODEN： APOPA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ICを密に配列してある回路板のホットスポット(過熱部分)の発...

シソーラス用語： ホログラフィー干渉法 ,...

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タイトルに関連する用語 (4件)： ホログラフィー干渉法 ,  回路板 ,  ホットスポット ,  発見