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J-GLOBAL ID:201002090789600327 整理番号:78A0170072
信頼度の比較 電子工学における客観テストと従来のテスト
A comparison of reliability: Objective and conventional examinations in electronic engineering.
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著者 (1件):
McVEY P J
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名寄せID(JGPN) 201550000182015930 ですべてを検索
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資料名:
Int J Electr Eng Educ (International Journal of Electrical Engineering Education)
Int J Electr Eng Educ について
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巻:
15
号:
2
ページ:
109-114
発行年:
1978年
JST資料番号:
B0131B
ISSN:
0020-7209
CODEN:
IJEEA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)
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