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J-GLOBAL ID：201002091089966289   整理番号：80A0072628

テスト発生とテストのダイナミック簡潔化法

Test generation & dynamic compaction of tests.
著者 (2件)：
GOEL P

GOEL P について

(IBM Corp.)

IBM Corp. について

, 
ROSALES B C

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(IBM Corp.)

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資料名：
Dig Pap Semicond Test Conf  (Digest of Papers. Semiconductor Test Conference)

Dig Pap Semicond Test Conf について


巻： 1979  ページ： 189-192  発行年： 1979年 
JST資料番号： E0211B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
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論理回路

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