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J-GLOBAL ID：201002091435517097   整理番号：79A0246906

バイポーラ素子認識技法を用いたLSIレイアウトのチェック

LSI layout checking using bipolar device recognition technique.

著者 (1件)： CHANG C S
資料名： Proc Des Autom Conf  (Proceedings of the Design Automation Workshop)
巻： 16th  ページ： 95-101  発行年： 1979年 
JST資料番号： D0553A  ISSN： 0738-100X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： バイポーラ素子ではショットキーバリャダイオードを除けばコンタ...

シソーラス用語： LSI ,...

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タイトルに関連する用語 (5件)： バイポーラ ,  技法 ,  LSI ,  レイアウト ,  チェック