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J-GLOBAL ID：201002092498631724   整理番号：76A0121651

日本におけるテスト発生システム

Test genetation systems in Japan.
著者 (3件)：
FUNATSU S

FUNATSU S について

, 
WAKATSUKI N

WAKATSUKI N について

, 
ARIMA T

ARIMA T について


資料名：
Proc Des Autom Workshop  (Proceedings of the Design Automation Workshop)

Proc Des Autom Workshop について


巻： 12th  ページ： 114-122  発行年： 1975年 
JST資料番号： D0553A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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中規模ないし大規模LSIの到来とともにディジタル回路のテスト...
シソーラス用語：
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LSI

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日本

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テスト

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発生システム

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