文献
J-GLOBAL ID:201002092668320095
整理番号:79A0114387
半導体電極のインピーダンス測定精度に対するオーム抵抗性電圧降下補正の影響
Influence de la correction de chute ohmique sur la pr<span style=text-decoration:overline>e ́</span>cision des mesures d’imp<span style=text-decoration:overline>e ́</span>dances des <span style=text-decoration:overline>e ́</span>lectrodes semi-conductrices.
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