テルル薄膜のSeebeck効果の構造依存性

OZKAPLAN H; DINNO M A; SCHWARTZ M

文献

J-GLOBAL ID：201002094501171635 整理番号：79A0235493

テルル薄膜のSeebeck効果の構造依存性

Structural dependence of the Seebeck effect of thin tellurium films.

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資料名：
巻： 50 号： 3 Pt 1 ページ： 1533-1534 発行年： 1979年
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIA 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

Te薄膜を焼鈍しない条件,急冷および焼鈍した条件で膜の一端を...

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