絶縁劣化試験へのワイブル統計学の適用

文献

J-GLOBAL ID：201002094815580688 整理番号：80A0111899

The application of Weibull statistics to insulation aging tests.

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資料名：
巻： 14 号： 5 ページ： 233-239 発行年： 1979年
JST資料番号： C0975A ISSN： 0018-9367 CODEN： IETIA 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

固体絶縁材料の加速寿命試験としては,一定電圧印加法および定速...

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