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J-GLOBAL ID:201002096634282688 整理番号:79A0145962
格子欠陥を調べるための陽電子寿命測定の新しい方法
A new way of using positron-lifetime measurements to study lattice defects.
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JANOT Ch
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GEORGE B
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BOIDRON M
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資料名:
J Phys (Journal de Physique et le Radium)
J Phys について
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巻:
40
号:
1
ページ:
39-45
発行年:
1979年
JST資料番号:
C0336A
CODEN:
JOPQA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
フランス (FRA)
言語:
英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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試料物質に希薄固溶体の状態で陽電子放出同位体を入れて,高温測...
シソーラス用語:
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陽電子消滅
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