X線光電子分光法による表面定量分析への計算で求めた光イオン化断面積および平均自由行路の応用例

HIROKAWA K; OKU M; HONDA F

文献

J-GLOBAL ID：201002097033496750 整理番号：77A0311625

X線光電子分光法による表面定量分析への計算で求めた光イオン化断面積および平均自由行路の応用例

Application examples of calculated photoionization cross sections and mean free paths to the quantitative surface analysis by X-ray photoelectron spectroscopy.

出版者サイト複写サービスで全文入手 {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=77A0311625&COPY=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=77A0311625&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=E0425A") }}

著者 (3件)： , ,
資料名：
巻： 286 号： 1/2 ページ： 41-43 発行年： 1977年
JST資料番号： E0425A ISSN： 0016-1152 CODEN： FZACA 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：ドイツ (DEU) 言語：英語 (EN)

電子の平均自由行路をPennの方法で計算し,光イオン化断面積...

,...

続きはJDreamIII（有料）にて {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=77A0311625&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=E0425A") }}

, , , ,

前のページに戻る