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J-GLOBAL ID:201002097177440538 整理番号:78A0326677
走査型電子顕微鏡における電子チャネリング像への材料深さの寄与
Contributions of material depths to electron channelling patterns in scanning electron microscopy.
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著者 (1件):
YAMAMOTO T
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資料名:
Int Vac Congr (Proceedings. International Vacuum Congress 7th 770912 Vol.1-3)
Int Vac Congr について
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巻:
7th
号:
3
ページ:
2651-2654
発行年:
1977年
JST資料番号:
K19770176
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
オーストリア (AUT)
言語:
英語 (EN)
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電子チャネリングパターンに寄与する材質の深さを金属を乗せた固...
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