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J-GLOBAL ID：201002097527017447   整理番号：78A0066779

磁場分析を用いる超高真空イオン散乱および二次イオン結合質量分析計

Combined UHV ion-scattering and secondary-ion mass spectrometer using magnetic analysis.
著者 (2件)：
TONGSON L L

TONGSON L L について

, 
COOPER C B

COOPER C B について


資料名：
J Phys E  (Journal of Scientific Instruments (Journal of Physics E))

J Phys E について


巻： 10  号： 12  ページ： 1245-1248  発行年： 1977年 
JST資料番号： C0354B  ISSN： 0022-3735  CODEN： JPSIAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)
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固体の低エネルギーイオンボンバード研究用に開発した。標的から...
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質量分析計

質量分析計 について

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