超小形回路の加速試験による寿命限界の故障モードの表現

文献

J-GLOBAL ID：201002098135512551 整理番号：78A0060534

Microcircuit accelerated testing reveals life limiting failure modes.

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資料名：
巻： 15th ページ： 179-195 発行年： 1977年
JST資料番号： A0631A 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

電気的にバイアスした状態で高温加速寿命試験を行うと短時間に超...

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