文献
J-GLOBAL ID:201002099202655300 整理番号:79A0336418
半導体中の欠陥の電子顕微鏡研究
The electron microscopy study of defects in semiconductors.
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資料名:
Inst Phys Conf Ser (Institute of Physics Conference Series)
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号:
43
ページ:
112
発行年:
1979年
JST資料番号:
E0403B
ISSN:
0305-2346
CODEN:
IPHSA
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)
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