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J-GLOBAL ID：201002124856099818   整理番号：10A1434108

超小型渦電流探傷非破壊試験プローブによる欠陥再構成

FLAW RECONSTRUCTION BY MICRO-ECT PROBE

著者 (3件)： UESAKA M ,  NAKANISHI T ,  MIYA K
資料名： REVIEW OF PROGRESS IN QUANTITATIVE NONDESTRUCTIVE EVALUATION, VOLS 13A AND 13B
ページ： 327-334  発行年： 1994年 
JST資料番号： I19940429  ISBN： 0-306-44731-2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： その他 (ZZZ)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (6件)： 渦電流 ,  傷 ,  非破壊試験 ,  プローブ ,  欠陥 ,  再構成