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J-GLOBAL ID：201002146141257649   整理番号：10A1294107

組み合わせ回路の試験パタンの入力を気にしない同定法

On identifying don’t care inputs of test patterns for combinational circuits

著者 (2件)： KAJIHARA S ,  MIYASE K
資料名： ICCAD 2001: IEEE/ACM INTERNATIONAL CONFERENCE ON COMPUTER AIDED DESIGN, DIGEST OF TECHNICAL PAPERS
ページ： 364-369  発行年： 2001年 
JST資料番号： I20010419  ISBN： 0-7803-7247-6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： その他 (ZZZ)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (4件)： 組み合わせ回路 ,  試験パタン ,  気 ,  同定法