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J-GLOBAL ID：201002205312376982   整理番号：10A0089099

PVモジュールの性能を地図化する,モジュールタイプの影響とデータ平均化

Mapping the performance of PV modules, effects of module type and data averaging

著者 (4件)： HULD Thomas (European Commission, Joint Res. Centre, T.P. 450, I-21027 Ispra, ITA) ,  GOTTSCHALG Ralph (Centre for Renewable Energy Systems Technol., Loughborough Univ., Loughborough, Leicestershire LE11 3TU, GBR) ,  BEYER Hans Georg (Inst. fuer Elektrotechnik, Hochsch. Magdeburg-Stendal, Breitscheidstrasse 2, D-39114 Magdeburg, DEU) ,  TOPIC Marko (Fac. of Electrical Engineering, Univ. of Ljubljana, Trzaska 25, SI-1000 Ljubljana, SVN)
資料名： Solar Energy  (Solar Energy)
巻： 84  号： 2  ページ： 324-338  発行年： 2010年02月 
JST資料番号： E0099A  ISSN： 0038-092X  CODEN： SRENA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 光電子(PV)モジュールのエネルギー産出高を大きな地理的地域の任意の場所で推定するための方法を提示する。方法は,面内照度とモジュール温度の関数とする,PVモジュールのエネルギー性能の数学的なモデルを使用して,これを衛星データによる太陽照射の推定と地上の観測所で得られた周囲温度を結合する。方法は,大部分のヨーロッパの地域の固定施設でその性能を地図化し,地域のパフォーマンスファクターを明確にして,定量化するために,3つの異なるPV技術(結晶質のシリコン,CuInSe2とCdTeに基づく薄膜技術)に適用される。PVパフォーマンスには地理的変化に,明確な技術依存性があることを分かる。照度と温度の長期の平均値を使うことにより,結果に,最高3%の系統的正のバイアスを生じることも示される。このバイアスを克服するために温度と照度の複合確率密度関数を使用することが,提案される。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *確率密度関数 ,  *太陽光発電 ,  *バイアス ,  *電力系統 ,  ケイ素 ,  照度 ,  テルル化カドミウム ,  温度 ,  薄膜 ,  データ ,  数学モデル
準シソーラス用語： シリコン ,  *衛星データ

分類 (1件)： 太陽光発電  (NB03090G)

タイトルに関連する用語 (5件)： PV ,  モジュール ,  地図 ,  タイプ ,  平均