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J-GLOBAL ID：201002207516631992   整理番号：10A1064050

偏光反射顕微鏡による不働態皮膜の不均一性の評価

著者 (3件)： 山中謙司 (北大 大学院工学研究院) ,  上田幹人 (北大 大学院工学研究院) ,  大塚俊明 (北大 大学院工学研究院)
資料名： 材料と環境討論会講演集
巻： 57th  ページ： 384-385  発行年： 2010年10月08日 
JST資料番号： L4445A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *不動態皮膜 ,  不均一性 ,  *偏光顕微鏡 ,  その場観察 ,  チタン ,  電位 ,  硫酸 ,  電流密度 ,  偏光子 ,  半導体レーザ ,  検光子 ,  耐食性 ,  *化成皮膜

分類 (1件)： 防食  (WB03040M)

タイトルに関連する用語 (4件)： 偏光 ,  皮膜 ,  不均一性 ,  評価