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J-GLOBAL ID：201002210378263287   整理番号：10A1228004

紫外線と電子ビームによって放射される微細粒子電荷の観察

Observation of fine particle charges irradiated by UV-light and electron beam

著者 (3件)： ANDO A ,  KAWAKAMI A ,  YOKOTA T
資料名： NEW VISTAS IN DUSTY PLASMAS
ページ： 526-529  発行年： 2005年 
JST資料番号： I20050728  ISSN： 0094-243X  ISBN： 0-7354-0287-6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： その他 (ZZZ)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (6件)： 紫外線 ,  電子ビーム ,  放射 ,  微細粒子 ,  電荷 ,  観察